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电子电工产物低温测试要求

一、工作空间是高气流速度或是低气流速度的确定：

在测量和试验的标准环境条件下,以及气流速度＜0.2m/s，按照待试验的低温条件下的规定给试验样品通电或加电气负载。

当试验样品的温度达到稳定，应使用合适的监测装置测量试验样品上或其周围若干个有代表性的位置的温度。之后，每一个位置的温升应予以记录。

开启试验箱的通风装置使空气循环，当温度达到稳定时，重新测量上述位置处的温度。如果此次测得的温度与上次无空气流动时测得的温度相差超过5K（或相关规范规定的其他值），应在检测报告中记录这些温度值，并且认为该试验箱具有高气流速度循环。然后给试验样品断电，并去掉任何负载条件。

二、非散热试验样品的试验：

在温度渐变试验Ab中，试验样品放入处于试验室温度的试验箱中，然后慢慢降低试验箱中温度，防止由于温度改变而对试验样品产生有害作用。建议采用高气流速度循环，因为这样可以减少达到温度稳定所需要的时间。

叁、散热试验样品的试验：

试验Ad和试验Ac描述了散热试验样品在低气流速度循环下的试验程序。这允许试验样品的局部发热点在其内部扩展的情况，类似于安装后的产物在应用中发生的情况。

四、温度监控：

    应使用温度传感器来测量试验箱里的空气温度，温度传感器的位置离试验样品的距离确保其受热扩散的影响可忽略不计。应适当注意以避免热辐射影响这些测量。